時(shí)代TIME2601覆層測厚儀
文章來源：時(shí)代光南 發(fā)表時(shí)間：2021.03.10 瀏覽人數(shù)：人
時(shí)代TIME2601覆層測厚儀功能特點(diǎn)：
主機(jī)、打印機(jī)、F頭或N頭、標(biāo)準(zhǔn)片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）、鐵基體或鋁基體、充電器
時(shí)代TIME2601覆層測厚儀可選附件：
探頭（F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1）、通信線纜、通信軟件
產(chǎn)品概述：
時(shí)代TIME2601覆層測厚儀是一種便攜式測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》 JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》
產(chǎn)品用途：
本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。
時(shí)代TIME2601覆層測厚儀技術(shù)參數(shù)：
注：H——標(biāo)稱值
測頭選用參考表：
- 采用了磁性和渦流兩種測厚方法，即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
- 可使用6種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)；
- 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
- 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
- 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測量次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
主機(jī)、打印機(jī)、F頭或N頭、標(biāo)準(zhǔn)片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）、鐵基體或鋁基體、充電器
時(shí)代TIME2601覆層測厚儀可選附件：
探頭（F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1）、通信線纜、通信軟件
產(chǎn)品概述：
時(shí)代TIME2601覆層測厚儀是一種便攜式測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》 JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》
產(chǎn)品用途：
本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。
時(shí)代TIME2601覆層測厚儀技術(shù)參數(shù)：
| 測頭型號(hào) | F400 | F1 | F1/90° | F10 | N1 | CN02 | |||
| 工作原理 | 磁 感 應(yīng) | 渦 流 | |||||||
| 測量范圍(mm) | 0～400 | 0～1250 | 0～1250 | 0～10000 | 0～1250(銅上鍍鉻0～40) | 10～200 | |||
| 低限分辨力(mm) | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | |||
| 示值 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(mm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | |||
| 誤差 | 二點(diǎn)校準(zhǔn)(mm) | ±((1～3)%H+0.7) | ±((1～3)%H+1) | ±((1～3)%H+1) | ±((1～3)%H+10) | ±[(1～3)%H+1.5] | |||
| 測 試 條 件 |
最小曲率半徑(mm) | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 10 | 3 | 僅為平直 | |
| 最小面積的直徑(mm) | F3 | F7 | F7 | F40 | F5 | F7 | |||
| 基體臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 無限制 | |||
注：H——標(biāo)稱值
測頭選用參考表：
| 覆蓋層 基體 |
有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等） | 非磁性的有色金屬的覆層 （如鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） |
|||
| 覆蓋層厚度不超過100μm | 覆蓋層厚度超過100μm | 覆蓋層厚度不超過100μm | 覆蓋層厚度超過100μm | ||
| 如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測面積的直徑大于30mm | F1型測頭0-1250μm F400型測頭0-400μm |
F1型測頭0-1250μm F10型測頭0-10mm |
F400型測頭0-400μm F1型測頭0-1250μm |
F1型測頭0-1250μm F10型測頭0-10mm |
| 被測面積的直徑小于30mm | F400型測頭0-400μm | F1型測頭0-1250μm F400型測頭0-400μm |
F400型測頭0-400μm | F400型測頭0-400μm F1型測頭0-1250μm |
|
| 如銅、黃銅、鋁、鋅、錫等有色金屬 | 被測面積的直徑大于5mm | N1型測頭0-1250μm | N1型測頭只能測銅上鍍鉻0-40μm | ||
| 塑料、印刷線路板等非金屬基體 | 被測面積的直徑小于7mm | - | - | CN02型測頭10-200μm （主要用途測銅箔厚度） |
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