ATU601數(shù)字超聲波探傷儀的操作方法
文章來源：時代光南 發(fā)表時間：2021.09.16 瀏覽人數(shù)：人
ATU601數(shù)字超聲波探傷儀操作簡規(guī)
第二步：單擊【調(diào)?！挎I，選擇“【F1】探頭”， 用【↓】鍵，旋轉飛輪將“探頭類型”為“雙晶直”、“探頭頻率”5MHz、“濾波頻帶”5MHz、“晶片尺寸”20mm。
第三步：將探頭耦合到被檢工件上，選擇“增益+”，使屏幕左側第一個波（被檢工件的一次底波）到屏幕的50%，按“閘門”鍵，調(diào)整“閘門起始”、“閘門寬度”使此波在閘門內(nèi)為最高波，按“范圍”鍵，用【↓】鍵選擇“探頭零偏”微調(diào)使屏幕下方“↓”顯示數(shù)值為實測工件厚度值，校準完成。
基準靈敏度
按“增益”鍵，用【↓】鍵選擇“基本增益”，在此基礎上再增加10dB即可。
按“閘門”鍵，調(diào)節(jié)閘門起始、閘門寬度（B1之前），閘門高度調(diào)到50%。
A、當板厚≤20mm用雙晶直探頭法檢測：
探頭耦合在檢測工件左上方無缺陷處，找到工件一次底波B1，移動探頭，出現(xiàn)缺陷波后，從外往內(nèi)移動探頭，使缺陷波到屏幕50%位置，標記探頭中心點即為缺陷邊緣，以此類推通過多點可確認缺陷的大致形狀。測量出缺陷的相應端點距離、指示長度、埋藏深度、面積、缺陷相鄰最小距離。
B、當板厚＞20mm用雙晶直探頭DAC曲線法檢測
第一步：按照雙晶直探頭校準方法在CSK-IA的20mm處校準；
第二部：按“曲線”（DAC），按“【F4】設置”，選擇“標準設置”按【┛】進入，調(diào)節(jié)飛輪，將“曲線根數(shù)”改為“1”，“1#曲線”偏移量為“0”，單擊【曲線】鍵進入制作DAC曲線。
第三部：按 “【F1】DAC”主菜單，選擇“曲線制作”子菜單，按【┛】開始制作DAC曲線。
用【↑】鍵更改“檢測范圍”到40mm，用【↓】鍵回到“閘門起始”；
將探頭放在板材專用試塊上（如圖），對準10mm位置的Φ5平底孔，找到最高回波，“自動增益”至屏幕80%，按【┛】鍵完成該點測試。
依次按序完成20mm、30mm位置的Φ5平底孔的測試，選擇“曲線制作”結束？”子菜單，單擊【┛】鍵，完成DAC曲線制作
基準靈敏度
按“增益+”將DAC曲線30mm位置的Φ5平底孔對應的點增益到屏幕的10%，按“增益”按鍵，用【↓】鍵“表面補償”，設置為“4dB”。
探傷方法：
探頭耦合在檢測工件左上方，找到工件底波，移動探頭，出現(xiàn)缺陷波后，從外往內(nèi)移動探頭，使缺陷波與DAC曲線相交位置，標記探頭中心點即為缺陷邊緣，以此類推通過多點可確認缺陷的大致形狀。測量出缺陷的相應端點距離、指示長度、埋藏深度、面積、缺陷相鄰最小距離。
第一步：連接探頭和儀器，按紅色電源鍵開機，按“通道”右旋飛輪選擇空通道（.NULL）；
第二步：單擊【調(diào)?！挎I，選擇“ 【F1】探頭，用【↓】鍵旋轉飛輪將“探頭類型”為單晶斜探頭、“探頭頻率”2.5MHz、“濾波頻帶”2.5MHz、“晶片尺寸”13×13mm（9×9mm）。
第三步：選擇“【F2】校準”主菜單，用【↓】鍵選擇“自動校準”，將探頭耦合到CSK-IA的標定試塊上（見圖1）。
第四步：設置“材料聲速”=3230m/s”按【┛】鍵、“探頭零偏”=7按【┛】鍵，“一點聲程”=50mm按【┛】鍵，“二點聲程”=100mm按【┛】鍵。
第五步：沿CSK-IA試塊邊沿前后移動探頭，找到100mm最高波，按“自動增益”到屏幕80%，保持探頭不動；單擊【┛】鍵，完成聲速和零偏的校準。量出探頭前端至R100圓弧前端的距離，輸入“前端距離”， 按【確認】鍵，完成前端距離即入射點（探頭前沿）的檢測。
2.2單晶斜探頭的角度校準（圖2）
第一步：按“【F3】角度”主菜單，用【↓】鍵選擇“自動校準”子菜單，按【┛】鍵，開始角度自動校準。
第二步： “目標直徑”50mm按【┛】，“中心深度”為30mm按【┛】，“標稱角度”為63.4按【┛】；
第三步：探頭沿試塊外側50mm外圓前后移動，找到50mm圓最高波，按【┛】完成折射角/K值自動校準。
2.3 DAC曲線制作(DAC點數(shù)：4（10mm、30mm、50mm、70mm）
1、按“曲線”鍵一次（按一次【F1】對應DAC, 按兩次【F1】對應AVG），按“【F4】設置”， 按【┛】進入標準設置，用【↓】【↑】選擇標準，按飛輪中央將“》”變成手型，旋轉飛輪更改標準為“NB/T47013-2015”,按“曲線” 返回。
2、按“【F1】DAC”，將探頭放置在CSK-IIA試塊上，用【↓】【↑】選擇“曲線制作”，按【┛】進入。如圖3所示，對準第一個測試孔(10mm深度的孔)，旋轉旋輪調(diào)整“閘門起始”鎖定此回波，移動探頭直到找到最高回波，按【自動增益】鍵，使得鎖定回波達到80%，此時，單擊【┛】鍵，完成該點的測試，此時，“測點波高”由“1-0.0%”變?yōu)?ldquo;2-80%”，表示進入下一個測試點的采樣。
依次步驟順序確定30mm、50mm、70mm，并記錄相應增益值。
3、選擇“曲線制作”結束？”子菜單，單擊【確認】鍵，完成DAC曲線制作。
4、單擊【調(diào)校】鍵，選擇“ 【F5】設置，將工件厚度改成實際工件厚度，按“增益”鍵，“表面補償”設置為3dB
尊敬的客戶：
雙晶直探頭校準
第一步：連接探頭和儀器，按紅色電源鍵開機，按“通道”右旋飛輪選擇空通道（.NULL）；第二步：單擊【調(diào)?！挎I，選擇“【F1】探頭”， 用【↓】鍵，旋轉飛輪將“探頭類型”為“雙晶直”、“探頭頻率”5MHz、“濾波頻帶”5MHz、“晶片尺寸”20mm。
第三步：將探頭耦合到被檢工件上，選擇“增益+”，使屏幕左側第一個波（被檢工件的一次底波）到屏幕的50%，按“閘門”鍵，調(diào)整“閘門起始”、“閘門寬度”使此波在閘門內(nèi)為最高波，按“范圍”鍵，用【↓】鍵選擇“探頭零偏”微調(diào)使屏幕下方“↓”顯示數(shù)值為實測工件厚度值，校準完成。
基準靈敏度
按“增益”鍵，用【↓】鍵選擇“基本增益”，在此基礎上再增加10dB即可。
按“閘門”鍵，調(diào)節(jié)閘門起始、閘門寬度（B1之前），閘門高度調(diào)到50%。
鋼板探傷方法：
測量被檢工件厚度A、當板厚≤20mm用雙晶直探頭法檢測：
探頭耦合在檢測工件左上方無缺陷處，找到工件一次底波B1，移動探頭，出現(xiàn)缺陷波后，從外往內(nèi)移動探頭，使缺陷波到屏幕50%位置，標記探頭中心點即為缺陷邊緣，以此類推通過多點可確認缺陷的大致形狀。測量出缺陷的相應端點距離、指示長度、埋藏深度、面積、缺陷相鄰最小距離。
| 缺陷編號 | 缺陷位置 | 缺陷判別 | ||||||
| L1(mm) | L2(mm) | L3(mm) | L4(mm) | Ls(mm) | h(mm) | S(cm²) | ||
| ① | ||||||||
| ② | ||||||||
第一步：按照雙晶直探頭校準方法在CSK-IA的20mm處校準；
第二部：按“曲線”（DAC），按“【F4】設置”，選擇“標準設置”按【┛】進入，調(diào)節(jié)飛輪，將“曲線根數(shù)”改為“1”，“1#曲線”偏移量為“0”，單擊【曲線】鍵進入制作DAC曲線。
第三部：按 “【F1】DAC”主菜單，選擇“曲線制作”子菜單，按【┛】開始制作DAC曲線。
用【↑】鍵更改“檢測范圍”到40mm，用【↓】鍵回到“閘門起始”；
將探頭放在板材專用試塊上（如圖），對準10mm位置的Φ5平底孔，找到最高回波，“自動增益”至屏幕80%，按【┛】鍵完成該點測試。
依次按序完成20mm、30mm位置的Φ5平底孔的測試，選擇“曲線制作”結束？”子菜單，單擊【┛】鍵，完成DAC曲線制作
基準靈敏度
按“增益+”將DAC曲線30mm位置的Φ5平底孔對應的點增益到屏幕的10%，按“增益”按鍵，用【↓】鍵“表面補償”，設置為“4dB”。
探傷方法：
探頭耦合在檢測工件左上方，找到工件底波，移動探頭，出現(xiàn)缺陷波后，從外往內(nèi)移動探頭，使缺陷波與DAC曲線相交位置，標記探頭中心點即為缺陷邊緣，以此類推通過多點可確認缺陷的大致形狀。測量出缺陷的相應端點距離、指示長度、埋藏深度、面積、缺陷相鄰最小距離。
單晶斜探頭的校準、DAC曲線制作、掃查調(diào)節(jié)
2.1單晶斜探頭的零偏、入射點（探頭前沿）和聲速的校準（圖1）第一步：連接探頭和儀器，按紅色電源鍵開機，按“通道”右旋飛輪選擇空通道（.NULL）；
第二步：單擊【調(diào)?！挎I，選擇“ 【F1】探頭，用【↓】鍵旋轉飛輪將“探頭類型”為單晶斜探頭、“探頭頻率”2.5MHz、“濾波頻帶”2.5MHz、“晶片尺寸”13×13mm（9×9mm）。
第三步：選擇“【F2】校準”主菜單，用【↓】鍵選擇“自動校準”，將探頭耦合到CSK-IA的標定試塊上（見圖1）。
第四步：設置“材料聲速”=3230m/s”按【┛】鍵、“探頭零偏”=7按【┛】鍵，“一點聲程”=50mm按【┛】鍵，“二點聲程”=100mm按【┛】鍵。
第五步：沿CSK-IA試塊邊沿前后移動探頭，找到100mm最高波，按“自動增益”到屏幕80%，保持探頭不動；單擊【┛】鍵，完成聲速和零偏的校準。量出探頭前端至R100圓弧前端的距離，輸入“前端距離”， 按【確認】鍵，完成前端距離即入射點（探頭前沿）的檢測。
2.2單晶斜探頭的角度校準（圖2）
第一步：按“【F3】角度”主菜單，用【↓】鍵選擇“自動校準”子菜單，按【┛】鍵，開始角度自動校準。
第二步： “目標直徑”50mm按【┛】，“中心深度”為30mm按【┛】，“標稱角度”為63.4按【┛】；
第三步：探頭沿試塊外側50mm外圓前后移動，找到50mm圓最高波，按【┛】完成折射角/K值自動校準。
2.3 DAC曲線制作(DAC點數(shù)：4（10mm、30mm、50mm、70mm）
1、按“曲線”鍵一次（按一次【F1】對應DAC, 按兩次【F1】對應AVG），按“【F4】設置”， 按【┛】進入標準設置，用【↓】【↑】選擇標準，按飛輪中央將“》”變成手型，旋轉飛輪更改標準為“NB/T47013-2015”,按“曲線” 返回。
2、按“【F1】DAC”，將探頭放置在CSK-IIA試塊上，用【↓】【↑】選擇“曲線制作”，按【┛】進入。如圖3所示，對準第一個測試孔(10mm深度的孔)，旋轉旋輪調(diào)整“閘門起始”鎖定此回波，移動探頭直到找到最高回波，按【自動增益】鍵，使得鎖定回波達到80%，此時，單擊【┛】鍵，完成該點的測試，此時，“測點波高”由“1-0.0%”變?yōu)?ldquo;2-80%”，表示進入下一個測試點的采樣。
依次步驟順序確定30mm、50mm、70mm，并記錄相應增益值。
3、選擇“曲線制作”結束？”子菜單，單擊【確認】鍵，完成DAC曲線制作。
4、單擊【調(diào)校】鍵，選擇“ 【F5】設置，將工件厚度改成實際工件厚度，按“增益”鍵，“表面補償”設置為3dB
尊敬的客戶：
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