ATX270涂層測厚儀
文章來源:時代光南 發(fā)表時間:2019.08.08 瀏覽人數(shù):人
ATX270涂層測厚儀概述
2. 兩點校準(um):±[(1%~3%)H+1]
3. 一點校準(um):±[2%H+1.5]
4. 兩點校準(um):±[(1%~3%)H+1.5]
2. 基體最小面積的直徑(mm):ф7
3. 最小臨界厚度(mm):0.5
4. 最小曲率半徑(mm):凸3 | 凹10
5. 基體最小面積的直徑(mm):ф5
6. 最小臨界厚度(mm):0.3
ATX270涂層測厚儀\鍍層測厚儀是一款便攜式涂鍍層測量儀,它能快速、無損傷、精密的進行涂鍍層厚度的測量。即可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。通過更換不同的側(cè)頭,還可以滿足多種測量的需要。ATX220涂層測厚儀能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護專用必備的儀器。
ATX270涂層測厚儀符合以下標(biāo)準:
- GB/T4956-1985 磁性方法
- GB/T4957-1985 渦流方法
- JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測厚儀
- JJG889-95 《磁阻法測厚儀》
- JJG818-93 《電渦流式測厚儀》
ATX270涂層測厚儀功能特點
- 采用了磁性和渦流兩種測厚方法:既然無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)又可測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)
- 可使用7種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
- 具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
- 具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)
- 設(shè)有五個統(tǒng)計量:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準偏差
- 可采用兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正
- 具有打印功能,可以隨時打印測量值
- 具有存貯功能:可存貯600個測量值
- 具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)
- 可設(shè)置限界:對限界外的測量值能自動報警
- 具有電源欠壓指示功能
- 操作過程有蜂鳴聲提示
- 具有錯誤提示功能,通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示
- 設(shè)有兩種關(guān)機方式:手動關(guān)機方式和自動關(guān)機方式
ATX270涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)
- 測頭類型:可選,見涂層測厚儀探頭參數(shù)表
- 測量原理:磁感應(yīng)和電渦流
- 測量范圍:0-1250um | 0-1250um 0-40um(銅上鍍鉻)
- 低限分辨力:0.1um
- 探頭連接方式:分體
- 示值誤差:F | N
2. 兩點校準(um):±[(1%~3%)H+1]
3. 一點校準(um):±[2%H+1.5]
4. 兩點校準(um):±[(1%~3%)H+1.5]
- 測量條件:F | N
2. 基體最小面積的直徑(mm):ф7
3. 最小臨界厚度(mm):0.5
4. 最小曲率半徑(mm):凸3 | 凹10
5. 基體最小面積的直徑(mm):ф5
6. 最小臨界厚度(mm):0.3
- 溫濕度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
- 統(tǒng)計功能:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準偏差
- 工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
- 測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
- 上下限設(shè)置:有
- 存儲能力:600個測量值
- 關(guān)機方式:手動和自動
- 電源:充電電池
- 外形尺寸:50×120×25mm
- 重量:400g
ATX270涂層測厚儀基本配置
- ATX270涂層測厚儀主機
- F測頭或N測頭
- 標(biāo)準片一套
- 鐵基體或鋁基體
- 電池
- 使用說明書